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低温测试

低温测试

检测目的: 检验试件能否在长期的低温环境中储藏、操纵控制
检测范围: 电子、元器件、电路板、通讯、LED、液晶屏、仪器仪表、电容、车辆、医药、塑胶、金属、化学、建材等行业产品
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低温测试介绍

低温测试是用带制冷功能的温度箱,测试前检查产品的相关功能、性能等是否正常并拍照,然后将产品放置于温度箱中,设置温度箱的温度及测试时长,比如-30°C,168小时,让温度箱工作,这样,就模拟出产品所处于的环境温度及时长。测试完成后,将产品取出,再次检查产品的相关功能、性能等跟测试前是否有什么变化。对比之后,如发现未受到影响,或者受到的影响在可接受的范围之类,则说明该产品抗低温方面的性能合格,否则为不合格。

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低温试验条件

不带电贮存:-40℃,保持24h,恢复2h。

测试设备是否工作正常;带电工作:-20℃,保持工作状态,观察设备是否正常工作;

参考标准:GJB 、GBT2423.1等。

低温试验标准
检测项目测试标准测试周期
样品要求
低温试验GB/T 2423.1-2008实际+2

只测:温度范围:-40℃~+5℃

尺寸:1×1×1m

IEC 60068-2-1-2007


低温试验的影响

低温对机械、电工、电子产品影响是多方面的,并因产品拄能、程度辅结构的特点而异,如:

1、使电解液冻结t导致电解电容器、电池不能正常使用;

2、润滑油粘度增加,甚至冷凝冻结,影响产品起动性能;

3、影响电子产品正常启动,增大仪表误差;

4、使材料变脆,如塑料、钢铁在低温下容生脆裂损坏,橡胶材料硬度增大,弹性下降。

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